北京大學(xué)測試中心
南京大學(xué)測試中心
清華大學(xué)分析中心
上海交大測試中心
復(fù)旦大學(xué)測試中心
華中科大測試中心
上海大學(xué)測試中心
北京電鏡實驗中心
搜索
歡迎來到源極聰分析測試中心！
首頁 咨詢電話：025-58510380 QQ: 2166234924
[微信·掃一掃]
測試項目分類
- 超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）高分辨場發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）高分辨場發(fā)射透射電子顯微鏡（JEM 2100F）超高分辨掃描電子顯微鏡（Nova NanoSEM 450）高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi SU8020）高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi S-4800 ）原子力顯微鏡（Multimode 8）原子力顯微鏡（NT-MDT Prima）高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)（SPI 3800N）原子力顯微鏡（MFP-3D）激光共聚焦顯微鏡（FV1200）
- 電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）多功能X射線光電子能譜儀（Kratos）俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）X射線粉末衍射儀（Advance D8）X射線單晶衍射儀（D8 Advance（達(dá)芬奇設(shè)計））X射線粉末衍射儀（島津?X-7000）電子探針X射線顯微分析儀（JAX-8230）X射線熒光光譜儀（XRF-1800）飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
- 熒光壽命測試儀（Quantaurus—Tau）吡啶紅外（尼高力 380）傅立葉紅外分光光度計（IRPrestige 21）紫外-可見分光光度計（Shimadzu UV3600）激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）橢偏儀（VB-400）瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）原子吸收光譜儀（AAnalyst 800）圓二色儀（Chirascan）表面等離子體共振（Biacore 3000）
- 無液氦綜合物性測量系統(tǒng)（QD Dynacool）電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)霍爾效應(yīng)測試儀（HMS-5000）精密阻抗分析儀（4294a）太陽能電池性能測試（Newport PVIV-412V）鐵電測試系統(tǒng)（RTI-Multiferroic）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
- 激光導(dǎo)熱儀（LFA 457）差示掃描量熱儀（DSC Q2000）熱電性能測試系統(tǒng)（ZEM-3）熱重分析儀（TG-Q500）熱重差示熱分析儀（HT1600）熱膨脹系統(tǒng)測試儀（耐馳 DIL402PC）機(jī)械熱分析（TMA402F3）DMA動態(tài)熱機(jī)械分析儀(TA Q800)
- 原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)（TriboIndenter）納米壓痕劃痕測試儀（安東帕 NHT2）動態(tài)超顯微硬度計（DUH-201S）電子材料試驗機(jī)（INSTRON 3343）數(shù)顯洛氏硬度計（HVS-1000）數(shù)顯維氏硬度計（HVS-50）
- 三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）元素分析儀?(德國elementar 公司?vario EL cube)液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）固體核磁波譜儀（VNMRS600）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）全自動比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）接觸角測量儀（OCA20）Zeta電位儀（Nano-ZS90）電化學(xué)工作站（Parstat PMC）全自動物理/化學(xué)吸附分析儀（康塔Quantachrome AutosorbiQ-C）四元液相色譜系統(tǒng) (1290 Infinity II)
測試項目
| *新項目
|
熱點測試
| 新聞動態(tài)
更多>>
|
友情鏈接
|
|